高頻加熱型TDS的特點

高頻加熱式升溫解吸分析儀IH-TDS1700是在超高真空下通過電磁感應(yīng)加熱樣品，利用四極質(zhì)譜儀（QMS）實時觀察樣品解吸分子的分析儀。由于超高真空，背景很低，可以進行高靈敏度測量。由于大氣和產(chǎn)生的氣體引起的副反應(yīng)的影響被大大抑制，因此可以在理想條件下觀察樣品中的解吸分子。

對于加熱效率好的金屬樣品，可以加熱到1700℃以上。也可以測量鋼中擴散氫的低溫 TDS，它是鋼材的氫脆因子。

設(shè)備主體的控制由PLC（可編程邏輯控制器）自動進行，界面采用觸摸屏。

配備負載鎖定室

負載鎖定室對于高測量效率（高通量）和高靈敏度是不可少的。我們的負載鎖定室和樣品轉(zhuǎn)移機制只允許將樣品快速引入超高真空分析室。

如果沒有負載鎖定室，每次更換樣品時分析室都必須對大氣開放。一旦打開到大氣中，大量的大氣成分（尤其是水分）被吸附在分析室中，需要很長時間才能充分排出。

鋼中擴散氫的低溫 TDS 測量

由于可以測量冷卻后的鋼試片，因此可以高精度地量化，而不會泄漏具有大氫擴散系數(shù)的 BCC 鋼的擴散氫。

冰霜附著在冷卻的鋼試樣上，這種冰霜的解吸會影響氫信號并導致擴散氫量出現(xiàn)誤差（增加不確定性）。IH-TDS1700 冷阱（可選）可以捕獲霜，以最大限度地減少霜的影響并獲得扭曲的擴散氫解吸光譜。

解吸氣體的量化

數(shù)據(jù)處理程序可以量化解吸的氣體。有必要定期校準質(zhì)譜儀的靈敏度以量化解吸氣體。

使用標準漏孔進行靈敏度校準需要與氣體類型相同數(shù)量的昂貴標準漏孔，并且校準工作非常耗時。此外，在使用標準泄漏有毒氣體時，安全和健康管理變得更加嚴格。

目前的量化程序可以比標準泄漏校準方法更快速、更輕松、更安全地量化解吸氣體。只需定期測量我們的 NIST 可追溯氫標準樣品，即可獲得高度準確的結(jié)果。經(jīng)證實，我公司開發(fā)的靈敏度校正方法即使在氫氣以外的氣體中也能校正靈敏度，與基于AIST（AIST）國標標準漏孔校準的定量結(jié)果吻合較好。 .